Technesch Donnéeën
Beliichtung / Vue System | Reflexioun: d/8 (Diffuséiert Beliichtung, 8 Grad kucken)Simultan Messung vun SCI/SCE (ISO7724/1, CIE No.15, ASTM E1164, ASTM-D1003-07, DIN5033 Teil7, JIS Z8722 Condition C Standard) Transmittance d/0 (Diffuséiert Beliichtung, 0 Grad kucken) |
Sensor | Silicon Photodiode Array |
Grating Method | Konkave Gitter |
Kugel Duerchmiesser | 152 mm |
Wellelängt | 360-780 nm |
Wellelängt Pitch | 10 nm |
Halschent Band Breet | 5nm vun |
Reflexioun RangeOpléisung | 0-200%0,01% |
Liicht Quell | Puls Xenon Lampe an LED |
UV Miessung | Enthält UV, 400nm Schnëtt, 420nm Schnëtt, 460nm Schnëtt |
Mooss Zäit | SCI/SCE < 2sSCI+SCE < 4s |
Miessung Apertur | Reflexioun: XLAV Φ30mm, LAV 18mm, MAV Φ11mm, SAV Φ6mmIwwerdroung: Φ25mm (Automatesch Ouverture Gréisst Unerkennung) |
Iwwerdroung Sample Gréisst | Keng Limite op Prouf Breet an Héicht, deck ≤50mm |
Widderhuelbarkeet | XLAV Spektrum Reflexioun / Iwwerdroung: Standarddeviatioun bannent 0,1%XLAV Chromaticity Wäert: Standarddeviatioun bannent ΔE*ab 0,015 * Wann eng wäiss Kalibrierungsplack 30 x mat 5 Sekonnen Intervalle gemooss gëtt no wäiss Kalibrierung |
Inter-Instrument Accord | XLAV ΔE*ab 0,15 (BCRA Serie II, Duerchschnëttsmessung vun 12 Fliesen, bei 23℃) |
Illuminants | A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12CWF,U30,DLF,NBF,TL83,TL84 |
Sprooch | Englesch, Russesch, Spuenesch, Portugisesch, Japanesch, Thai, Koreanesch, Däitsch, Franséisch, Polnesch, Chinesesch (einfach an traditionell), |
Display | Reflexioun an Transmittanz Grafik / Wäert, Faarfwäert, Faarfdifferenzwäerter, Pass / Fail, Faarfsimulatioun, Faarfbewäertung, Niwwel, Flëssegchromatizitéitswäerter, Faarftendenz |
Bléckwénkel | 2° an 10° |
Faarf Plaze | L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ |
Aner Indizes | WI(ASTM E313-00,ASTM E313-73,CIE/ISO, AATCC, Hunter, Taube Berger, Stensby)YI (ASTM D1925, ASTM E313-00, ASTM E313-73), Tint (ASTM E313-00), Metamerismus Index milm, Fleckschnellkeet, Faarfschnellkeet, ISO Hellegkeet, R457, A Dicht, T Dicht, E Dicht, M Dicht , APHA/Pt-Co/Hazen, Gardner, Saybolt, ASTM Faarf, Haze, Total Transmittance, Opazitéit, Faarfkraaft |
Faarf Ënnerscheed | ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc, ΔE*94, ΔE*00, ΔE*ab(Hunter),555 Schattensorte |
Stockage Erënnerung | 8 GB U Disk fir Datelagerung an Transfert |
Écran Gréisst | 7 Zoll Touchscreens |
Muecht | 12V/3A |
Operatioun Temperatur | 5-40 ℃ (40-104F), relativer Fiichtegkeet 80% (bei 35 ℃) keng Kondensatioun |
Späichertemperatur | -20-45 ℃ (-4-113F), relativer Fiichtegkeet 80% (bei 35 ℃) keng Kondensatioun |
Accessoiren | Stroumadapter, USB Kabel, Fixture fir Iwwerdroung, U Disk (PC Software), Schwaarz Kalibratiounskavitéit, Wäiss a Gréng Kalibratiounsfliese, 0% Kalibrierungsfliese (Transmittanz), Reflektanztest Support, 30 mm, 18 mm, 11 mm a 6 mm Aperturen, Reflexiounsprobe fixture, Glas Zell 40x10mm |
Optional Accessoiren | Heizungsarmatur fir Iwwerdroung, Vertikal Ënnerstëtzung a Pneumatesch Ram fir no ënnen Miessung, Reflexiounsarmatur fir kleng Gréisst Probe, Reflexiounsglaszell Ënnerstëtzung, Korrosiounsbeständeg Schutzplack (net eraushuelbar), Probehalter fir Fiber, Filmarmatur, Transmittanzarmatur fir kleng Apertur , Trolley Case, europäesch Standard Plug, American Standard Plug |
Interface | USB, USB-B an RS-232 |
Instrument Gréisst | 465 x 240 x 260 mm |
Gewiicht | 10,8kgs |
Aner Funktioun | 1. Kamera fir Moossgebitt ze gesinn;2. Ënnerstëtzt horizontal, vertikal a downward Miessmethod (brauchen optional Accessoiren fir Ënnerstëtzung fir Downward Messung); 3. Auto Fiichtegkeet an Temperatur Kompensatioun Funktioun. |